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Metallografìa.

Metall. - Scienza che studia la costituzione e la struttura dei metalli, in relazione alle loro proprietà chimico-fisiche e meccaniche. • Encicl. - Le prime osservazioni della struttura dei metalli al microscopio furono compiute da R. Hooke, nella seconda metà del Seicento. Tuttavia, solo nel XIX sec., con H.C. Sorby e Tschernoff, si ebbe un'applicazione sistematica del microscopio per lo studio dei metalli e delle loro leghe. La m. si avvale di diverse tecniche; fra di esse la più semplice è la macrografia. Con questo termine si intende ogni osservazione effettuata a occhio nudo, o con strumenti a basso ingrandimento; essa permette di ottenere informazioni sulla struttura granulare dei metalli, sulla segregazione, e su alcuni difetti. Uno degli esami macrografici più interessanti è la tiografia o impronta Baumann, utilizzato per rilevare la distribuzione dei solfuri in una sezione di un campione di acciaio. Si parla, invece, di micrografia ottica quando l'osservazione del campione è effettuata per mezzo di un microscopio metallografico, con ingrandimenti ottici fino a qualche migliaio di volte. Per la micrografia ottica è necessaria una complessa preparazione dei campioni, allo scopo di ottenere una superficie molto piana e rappresentativa della microstruttura del metallo. L'utilizzo di sofisticate emulsioni fotografiche a colori e di microscopi con ottica particolarmente corretta, consente di ottenere una documentazione micrografica a colori, che si rivela molto utile nello studio delle leghe non ferrose con inclusioni non metalliche, e in quello dei fenomeni di corrosione (è possibile colorare in maniera caratteristica l'agente corrosivo). Molto utile per la m. si rivela anche il microscopio elettronico; poiché esso non è utilizzabile per l'osservazione diretta di superfici opache, le osservazioni vengono condotte per mezzo delle cosiddette repliche: sottili pellicole di collodio, silice, carbonio o altro, su cui vengono impressi i dettagli strutturali del metallo studiato. Nella microscopia elettronica a scansione, il campione viene esplorato da un pennello elettronico; gli elettroni diffusi sono raccolti da un contatore a scintillazione, la cui corrente in uscita modula l'intensità del fascio elettronico di un tubo a raggi catodici il cui schermo è, a sua volta, esplorato in modo sincronico con il campione. Dalla topografia superficiale del campione, dal numero atomico degli elettroni che, a seconda dei punti, lo compongono, e da tutto un insieme di altre caratteristiche, dipenderà il contrasto dell'immagine che si viene a formare sullo schermo del tubo. Uno dei principali vantaggi della microscopia elettronica a scansione è che per essa non è necessaria la planarità del campione, o una sua particolare preparazione. Nell'analisi con microsonda elettronica il campione è irraggiato nel vuoto con un sottile fascio elettronico e i raggi X emessi dagli atomi del campione sono analizzati con uno spettrometro a cristallo. Questa tecnica risulta particolarmente efficace per studiare i fenomeni di segregazione, le inclusioni non metalliche, le ossidazioni e i fenomeni di inquinamento. L'analisi per diffrazione di raggi X viene, invece, utilizzata per studiare natura e dimensioni del reticolo cristallino, le dimensioni dei grani, i difetti reticolari e gli orientamenti cristallografici.